Fähigeitsnachweis der Messgeräte/Prozesse durch Prüfen von Prüfteilen (Verfahren 1 oder 2)
Hinweise: Ziel ist eine Fähigkeit von Cm(p) > 1,67 nachzuweisen. Hierfür müssen mind. 25 Messabläufe pro Messsystem durchgeführt und ausgwertet werden.
Dokumentation: Dokument (Tabelle) mit Fähigkeitsindex pro Merkmal.